X射线荧光分析的原理及应用

 X射线荧光分析(XRF)——是对任【rèn】何种类的【de】样品进行元素【sù】分析的好分【fèn】析技【jì】术，无【wú】论必需分析【xī】的样【yàng】品是液体【tǐ】、固体还【hái】是粉末【mò】。XRF可以将高的准确【què】度和精密度与简单和快速【sù】的样品【pǐn】准【zhǔn】备【bèi】结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的【de】元素喜迁分析，浓度范围【wéi】从 100 % 到低至亚 ppm 级。
 

　　作为一种【zhǒng】确定各种材料化【huà】学组成的一种分析方法，XRF的被测材【cái】料【liào】可以是固体、液体【tǐ】、粉【fěn】末或其它形【xíng】式。XRF还可【kě】测【cè】定镀层【céng】和薄膜的厚度及成分。XRF具【jù】有分析速度快、准确度高【gāo】、不破坏样品及【jí】样品前处理简单【dān】等【děng】特点。应用范【fàn】围【wéi】广泛，涉【shè】及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食【shí】品以【yǐ】及矿物、地质和环境等【děng】领【lǐng】域，在医药【yào】研究方面，XRF也是一种非常有用的分【fèn】析方法【fǎ】。
 

　　X荧光光谱仪可分为能量色散(EDXRF)和波长色【sè】散(WDXRF)两大类，随后将详细介绍【shào】。可分析的【de】元素及【jí】检测限主【zhǔ】要取【qǔ】决【jué】于所用的光【guāng】谱仪【yí】系【xì】统。EDXRF分析【xī】的元素从Na到U； WDXRF分【fèn】析【xī】的元素从Be到【dào】U。浓度范围从ppm到100%。通常重元素【sù】的检测限优于轻元素。